高速DDS芯片测试国产化，铸造核心竞争力。 测试背景 半导体芯片测试是半导体产业链中不可或缺的重要一环，它贯穿于从产品设计开始到完成的全过程。测试业已经由过去作为单个集成电路制造企业生产中的一个工序渐渐分离成为半导体产业链中的独立一环...

核电站内的巡逻兵，开发高可靠性的测试系统用于堆芯熔化事故的紧急救援。 测试背景 压力容器外部冷却（ERVC ）作为压水堆核电站严重事故的典型缓解策略，在发生堆芯熔化事故时，可以通过压力容器外部冷却流道内的两相自然循环带出下封头熔融物的衰...

使用简单、人性化的界面让工程师操作得心应手! 测试背景 测试系统主要是为客户正在研制的LC谐波振荡器所开发的测试系统。该振荡器可以通过外部信号激励，内部产生信号变化输出，同时测试在不同温度下，输出的信号衰减后对频率的影响。 系统描述 本...